詳細(xì)摘要: 半導(dǎo)體晶圓接觸角測(cè)量?jī)x Wafer水滴測(cè)試晶圓表面分析測(cè)量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)適用于半導(dǎo)體晶圓(Wafer)工藝的質(zhì)量控制。提供晶圓(Wafers)表面的...
產(chǎn)品型號(hào):SDC-600所在地:成都市更新時(shí)間:2024-08-31 在線(xiàn)留言粉碎設(shè)備 混合設(shè)備 分離設(shè)備 濃縮結(jié)晶設(shè)備 傳質(zhì)設(shè)備 干燥設(shè)備 反應(yīng)設(shè)備 換熱設(shè)備 制冷設(shè)備 空分設(shè)備 儲(chǔ)存設(shè)備 鍋爐|加熱設(shè)備 包裝機(jī)械 輸送設(shè)備 化工實(shí)驗(yàn)室設(shè)備