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大理石平臺(tái)/花崗巖平臺(tái)/檢測(cè)平臺(tái)
大理石平臺(tái)是一種大理石精密量具、精密檢測(cè)平臺(tái)，又名花崗石平板，采用"優(yōu)質(zhì)材料"經(jīng)機(jī)械加工和手工研磨加工制成，大理石平臺(tái)主要礦物成分為輝石，斜長(zhǎng)石，少量橄欖石，黑...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/22 8:45:42 對(duì)比
300mm平面光帶檢測(cè)儀/平面平晶
1、機(jī)械密封件平面度檢測(cè)儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測(cè)儀，又叫平面光帶檢測(cè)儀，其中采用的1級(jí)平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/22 8:43:46 對(duì)比
250mm平晶/密封環(huán)平面度檢測(cè)儀
1、機(jī)械密封件平面度檢測(cè)儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測(cè)儀，又叫平面光帶檢測(cè)儀，其中采用的1級(jí)平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/22 8:41:17 對(duì)比
200mm平晶/機(jī)械密封件平面度檢測(cè)儀
1、機(jī)械密封件平面度檢測(cè)儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測(cè)儀，又叫平面光帶檢測(cè)儀，其中采用的1級(jí)平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/22 8:39:07 對(duì)比
150mm平面平晶/平面光帶檢測(cè)儀
1、機(jī)械密封件平面度檢測(cè)儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測(cè)儀，又叫平面光帶檢測(cè)儀，其中采用的1級(jí)平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/22 8:36:23 對(duì)比
100mm平面平晶/平面光帶檢測(cè)儀
1、機(jī)械密封件平面度檢測(cè)儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測(cè)儀，又叫平面光帶檢測(cè)儀，其中采用的1級(jí)平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/22 8:33:46 對(duì)比
250mm平面平晶/平面度檢測(cè)儀
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 19:17:12 對(duì)比
200mm平面平晶（1級(jí)平晶）

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 19:14:55 對(duì)比
150mm平面平晶/1級(jí)平晶
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 19:12:39 對(duì)比
平面平晶-平行平晶-平面光帶檢測(cè)儀
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 19:10:17 對(duì)比
100mm平面平晶/1級(jí)平晶
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 19:07:33 對(duì)比
60mm平面平晶/1級(jí)2級(jí)平晶
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 19:05:24 對(duì)比
45mm平面平晶（1級(jí)平晶）

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 19:02:32 對(duì)比
DX-100數(shù)據(jù)處理測(cè)長(zhǎng)儀
DX-100數(shù)據(jù)處理測(cè)長(zhǎng)儀是光、機(jī)、電、算一體化的長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器，除可用于對(duì)零件的內(nèi)外尺寸進(jìn)行測(cè)量和比較測(cè)量外，還可使用儀器所帶的專用附件組合進(jìn)行各種特殊測(cè)量，該...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 18:59:51 對(duì)比
鋼制標(biāo)準(zhǔn)量塊/公制套裝量塊
量塊是長(zhǎng)度計(jì)量的實(shí)物基準(zhǔn)，量塊的各項(xiàng)精度指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，可按GB/T,或DIN861標(biāo)準(zhǔn)制造。量塊是一種無(wú)刻度的標(biāo)準(zhǔn)端面量具，其制造材料為特殊合金鋼...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 18:58:06 對(duì)比
三等標(biāo)準(zhǔn)金屬線紋尺

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 18:56:07 對(duì)比
二等標(biāo)準(zhǔn)玻璃線紋尺
玻璃線紋尺主要是用于比長(zhǎng)儀、輪廓投影儀、二次元影像測(cè)量?jī)x、工具顯微鏡、測(cè)量機(jī)等長(zhǎng)度測(cè)量工具中作為測(cè)量校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)計(jì)量部件，測(cè)量精度符合JJG73-2005計(jì)量...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 18:54:04 對(duì)比
平行平晶0-25/25-50/50-75/75-100
平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。功能：平行平...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 18:52:17 對(duì)比
平面平晶/平面光帶檢測(cè)儀
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 18:50:38 對(duì)比
YZCJ-60阿貝式比較測(cè)角儀

型號(hào)：所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/3/21 18:47:57 對(duì)比

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