熱烈祝賀我司升型DRE-5C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀上市！

DRE-5C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀是在DRE-2C型儀器的基礎(chǔ)上全面升，采用瞬態(tài)平面熱源法，升后產(chǎn)品功能更強(qiáng)大：

1、可測(cè)量固體、粉末、膠狀、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散系數(shù)、蓄熱系數(shù)和比熱容等種指標(biāo)，

2、增加單試樣模式、薄片樣模式、薄膜樣模式、單軸異性樣模式，適用不同尺寸及形式的樣品檢測(cè)。

3、可支持兩種不同尺寸測(cè)試探頭的使用，方便在保證測(cè)試精度的提下選擇不同尺寸樣品的檢測(cè)。

本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk作為探頭的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀。

Hot Disk法的優(yōu)點(diǎn)有：

(1) 直接測(cè)量熱傳播，可以節(jié)約大量的時(shí)間；

(2) 不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；

(3) 無(wú)須特別的樣品制備，只需相對(duì)平整的樣品表面。

儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：

ISO22007-2-2008 導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)的測(cè)試法；

GB/T 32064-2015 建筑用材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)瞬態(tài)平面熱源測(cè)試法。

DZ/T0276.14-2015 中華人民共和國(guó)地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 巖石物理力學(xué)性質(zhì)實(shí)驗(yàn)規(guī)程第14部分：巖石熱導(dǎo)率實(shí)驗(yàn).

二、 主要技術(shù)指標(biāo)

1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.0100—300W/mk，分辨率:0.0001 W/(m·K),

2、測(cè)量時(shí)間：5-1200，

3、準(zhǔn)確度：優(yōu)于5％，

4、溫度范圍：

4.1、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：室溫；

4.2、配試樣溫度控制器：-20℃～120℃，（可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測(cè)試溫度，費(fèi)用另計(jì)）,

5、探頭配置：標(biāo)配Φ15mm探頭，儀器支持2個(gè)探頭；

選配Φ7.5mm探頭，費(fèi)用另計(jì)。

6、測(cè)量模式：

6.1、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：塊狀樣（雙試樣）模式（配Φ15mm探頭時(shí)）

6.1.1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.01—300（W/mk）；

6.1.2、熱擴(kuò)散系數(shù)測(cè)定范圍：0.05—10（mm2/s）；

6.1.3、樣本尺寸：≥Φ45×15（mm），大于20 W/mk時(shí)，按軟件提示尺寸；

6.2、擴(kuò)展測(cè)量：

6.2.1、塊狀樣（單試樣）模式

6.2.1.1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.01—300（W/mk）；

6.2.1.2、樣本尺寸：≥Φ45×15（mm）；

6.2.2、薄片樣模式

6.2.2.1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：1—300（W/mk）；

6.2.2.2、樣本尺寸：有效測(cè)量面積≥Φ45，厚度1—10（mm）；

6.2.3、薄膜樣模式

6.2.3.1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.01—10（W/mk）；

6.2.3.2、樣本尺寸：有效測(cè)量面積≥Φ45，厚度0.01—1.00（mm）；

6.2.4、單軸異性樣模式

6.2.4.1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.01—300（W/mk）；

6.2.4.2、樣本尺寸：≥Φ45×15（mm）；

7、電源：220V，功率：200W。

8、操作方便，測(cè)試速快，僅需將測(cè)試探頭夾在兩塊試樣塊中間，通過(guò)簡(jiǎn)單的軟件點(diǎn)擊操作即能獲得被測(cè)試樣的導(dǎo)熱系數(shù)。

三、瞬態(tài)平面熱源法測(cè)量原理

瞬態(tài)平面熱源法(Transient Plane Source Method，TPS)是在熱線法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，該方法也被稱(chēng)為“Gustafsson”探頭法或Hot Disk法，TPS探頭可以看成由金屬絲(一般采用金屬鎳)彎成的同心圓環(huán)，并在圓環(huán)的兩面覆蓋有抗腐蝕性和機(jī)械性能良好的聚合物保護(hù)層。在本方法中，探頭是由導(dǎo)電金屬鎳經(jīng)刻蝕處理后形成的連續(xù)雙螺旋結(jié)構(gòu)的薄片，外層為附有一層保護(hù)層，它令探頭具有一定的機(jī)械強(qiáng)度，同時(shí)保持探頭與樣品之間的電絕緣性。探頭通常被放存兩片樣品中間進(jìn)行測(cè)試。探頭的溫升是時(shí)間的函數(shù)。探頭既是溫度傳感器又作為加熱源(自加熱傳感器)。然后利用對(duì)應(yīng)的模型和邊界條件對(duì)響應(yīng)進(jìn)行分析。

在測(cè)試過(guò)程中，電流通過(guò)鎳絲時(shí)產(chǎn)生的熱量會(huì)同時(shí)向探頭兩側(cè)的樣品進(jìn)行擴(kuò)散，熱量在材料中擴(kuò)散的速率依賴(lài)于材料的熱擴(kuò)散系數(shù)和導(dǎo)熱系數(shù)等熱特性。通過(guò)記錄溫度與探頭的響應(yīng)時(shí)間，材料的這些特性可以被計(jì)算出來(lái).